材料的導熱系數不僅與材料的物質種類有關，而且與它的微觀結構、填料含量等有密切聯系。在科學實驗和工程設計中，所用材料的導熱系數都需要用實驗的方法精確測定。測試導熱系數的方法多種多樣，比如：穩態熱板法（參照標準：ASTM D5470）、激光閃射法（參照標準：ASTM E1461）、瞬態平面熱源法（參照標準：ISO 22007-2）。各種不同方法與測試標準得出的數據會有差異。目前，在導熱硅膠片行業中，國際通用的測試標準是ASTM D5470和ISO 22007-2兩種。

ASTM D5470是美國材料試驗協會制訂的熱導性電絕緣材料的熱傳輸特性的標準試驗方法，采用穩態熱板法，對樣品施加一定的熱流量，壓力，測試樣品的厚度和在熱板/冷板間的溫度差，得到樣品的導熱系數。

穩態熱板法原理（圖）

博里業定律：

熱阻：

導熱系數：

這種測試方式更能模擬實際的使用狀態，通過熱阻反映導熱系數。傲川科技有限公司擁有DRL-II型、DRL-III型導熱系數測試儀，以及LW-9389型界面材料熱阻及熱傳導系數儀可進行符合ASTM D5470標準的導熱系數測試。

DRL-II型導熱系數測試儀（圖）

DRL-III型導熱系數測試儀（圖）

LW-9389型界面材料熱阻及熱傳導系數儀（圖）

國內外許多著名導熱硅膠片生產企業也同樣采用這一測試方法和標準。 但這種方法需要一定厚度樣品以獲得足夠的溫度差；接觸熱阻會影響測試結果；為了達到穩態，通常測試的時間較長。

那么有沒有一種簡便快捷地測出導熱系數的方法呢？

參照國際標準ISO 22007-2的瞬態平面熱源法（TPS）是目前研究材料導熱性能的方法中最方便、精確的一種，通常測試一次只需幾分鐘。它是一種新技術，在研究材料時能夠同時測量熱導率、熱擴散率以及單位體積的熱容。

這種方法采用一個瞬間熱平面探頭（Hot Disk 探頭），我們也將其稱之為Hot Disk 法。Hot Disk探頭是由導電模式的，形狀是雙螺旋結構，是用金屬薄片（如鎳）刻蝕成的。這種雙螺旋結構是由兩片薄的絕緣材料（聚酰亞胺，云母等）夾著的，類似于三明治的結構。

Hot Disk探頭（兩股螺旋線探針作為加熱/傳感元件）（圖）

它的原理是，基于無限大介質中階躍加熱的圓盤型熱源產生的瞬態溫度響應。利用熱阻性材料鎳做成一個平面探頭，同時作為熱源和溫度的傳感器。鎳的熱電阻系數—溫度和電阻的關系呈線性關系，即可通過了解電阻的變化可以知道熱量的損失，從而反映樣品的導熱性能。